涂层测厚仪影响因素问与答（二）

  3.如何系统校准?

  校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时最好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。

  4.有时开机出现干扰是什么原因?

  开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:

  (1)开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。

  (2)没插好探头或者探头线有损伤。

  涂层和覆层测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对涂层覆层厚度测量有了明确的要求和规定。

  涂层厚度的测量方法主要有：楔切法涂层测量，光截法涂层测量，电解法涂层测量，厚度差测量法，称重法涂层测量，χ射线荧光法涂层测量，β射线反向散射法涂层测量，电容法涂层测量，磁性测量法和涡流测量法测量厚度等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。随着科学技术的日益进步。

 

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